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        通过对暗室中不同器件(如照明、通风口、转台、过道、吊葫芦等)全波仿真分析计算,并与建成后暗室测试对比发现,以上器件对暗室静区影响很大。目前国内外厂商采用传统评估暗室的方法,即GO(几何光学)或者PO(物理光学)来评估暗室静区性能,这种方法具有致命的缺陷,尤其当暗室中存在过道、吊葫芦(含工字轨道)等设备时,具体缺陷:传统方法不能仿真过道引起的“截断散射”效应,过道终点通向静区(被测区域),该散射场会影响静区性能;截断散射效应是过道位置选择的一个重要参考依据;传统方法不能准确仿真过道形成的“腔体反射”效应,过道与周边角锥吸波材料形成一个半开口的腔体,其多次反射后形成的辐射场是暗室噪声的来源。腔体反射效应是过道位置选择、周边吸波材料布局设计和选取的一个重要参考依据;传统方法不能准确仿真吊葫芦形成的“腔体辐射”效应,无论吊葫芦裸露放置在暗室中还是放置在屏蔽体内,都会形成一个腔体,对外辐射电磁场是暗室的噪声来源。腔体辐射效应是吊葫芦位置选取的一个重要参考依据;传统方法不能仿真“低频绕射”、“高阶反射”等现象,而这些波动现象往往是高规格宽频暗室的主要噪声来源;传统方法不能仿真转台、照明和通风等对静区的影响,暗藏巨大风险。综上所述,如果暗室的低频段不要求(f>1GHz)、静区要求不高(-30dB)、内部结构简单(过道远离主反射区,无吊葫芦),以“传统方法+工程经验”进行估计,基本可以胜任。但是,如果要求低频(绕射现象严重)、高静区要求(-40dB或更高,中高频的高价衍射完全可能破坏静区性能)、内部设备多(例如大型暗室,暗室建筑物形状特殊导致过道靠近主反射区,测试设备重需要安装吊葫芦),传统方法往往出现巨大误差。

 

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